2021年5月20日，“2020年度中國計量測試學會科學技術進步獎”頒獎儀式在北京舉行。學會理事長蒲長城、清華大學金國藩院士、清華大學王志新院士，大連理工大學王立鼎院士、中科院地質與地球物理研究所李獻華院士、哈爾濱工業大學譚久彬院士參加大會并為獲獎人員頒獎。來自中央國家機關有關部委、高等院校、技術機構和企業的代表共300余人參加了頒獎大會。
2020年度中國計量測試學會科學技術進步獎，經資格審評、網絡初評、會議復審、評審委員會終審答辯以及公示等5個環節，共評出29個獲獎項目，其中一等獎9項，二等獎8項，三等獎12項。此次獲獎項目技術前沿、涉及領域寬，充分體現了計量測試基礎特點，服務國家量傳溯源體系和國家重大工程，社會效益和經濟效益顯著。其中，由西安交通大學完成的“大長徑比復合納米探針可控制備及可溯源測量方法”解決了大深寬比微納結構測量這個半導體芯片領域的嚴重“卡脖子”難題，該難題入選了2020年度“科創中國”先導技術榜單。
2013年4月10日，中國計量測試學會獲得中華人民共和國科學技術部、國家科學技術獎勵辦公室批準，準予在計量測試領域開展科學技術進步獎評獎活動。多年來，學會堅持“尊重人才、尊重知識、鼓勵創新”的宗旨，堅持“公平、公正、公開”的原則，共評出獲獎項目246項，其中有6項榮獲國家獎。
